梅特勒-托利多推出高性能新型XPE系列天平

 勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵盖了微量分析天平分析天平精密天平,以及使用Quantos粉末和液体自动加样模块。凭借最新的静电消除、智能秤盘以及状态指示灯技术,新型XPE天平可以保证测量结果的稳定性和合规性,帮助客户轻松实现无忧测量。

 如何处理静电是分析天平和微量天平所要面对的一大挑战,而新型XPE天平的静电消除技术使得这一问题将不复存在。XPE微量分析天平和分析天平使用创新的静电消除技术,能够通过分析称量信号判断并消除由于静电导致的称量误差。

  此外,革新性的智能秤盘可以使得精密天平在不使用防风罩的情况下,实现最高达5mg的测量精度。即便是在通风橱中,其测量结果的速度也比之前加快了一倍。

 

  XPE天平自带的TestManager软件将使得常规测量管理变得轻松无比。使用该软件可以便捷地帮助客户实现特定测量,且用户在测试即将开始时也会接收到软件的提醒通知。如果实验尚未完成,用户还可以选择将天平自动锁定来确保实验的高度过程安全性。

 新型XPE天平采用了全新触摸屏显示终端;其统一的设计使得用户使用完XPE天平后也能轻松掌握其他天平甚至其他任何梅特勒-托利多的仪器。此外,新型XPE天平前端自带的状态指示灯能以不同的颜色直观显示天平的就绪状态。而与天平配套的梅特勒-托利多LabX实验室软件也更新支持静电消除,状态指示灯甚至是新的RFID功能。

  新型XPE天平能够帮助客户满足当前甚至是未来数年内的称量需求,从而保障了客户的长期投资收益。